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hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關、高壓交直流變壓器元件構成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-12-19
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關、高壓交直流變壓器元件構成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-12-19
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關、高壓交直流變壓器元件構成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-12-19
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關、高壓交直流變壓器元件構成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-12-19
美國lee粗糙度儀粗糙度儀rl100是美國lee公司新出的新一代粗糙度儀，也叫袖珍便攜式表面粗糙度儀。它具有測量精度高、測量范圍寬、操作簡便、便于攜帶、工作穩(wěn)定等特點，可以廣泛應用于各種金屬與非金屬的加工表面的檢測，該粗糙度儀是傳感器主機一體化的袖珍式粗糙度儀，具有手持式特點，更適宜在生產現(xiàn)場使用。外形采用拉鋁模具設計，堅固耐用，抗電磁干擾能力顯著，符合當今設計新趨勢。
更新時間:2025-12-18
商品名稱：低阻抗率計 mcp-t370型 (手提式)loresta-ax特色：維持安定之高質量，依據之四探針理論之高精度之阻抗率計操作簡單，現(xiàn)場使用攜帶型方便，用于生產技術、質量管理測定范圍：10-2～106ω資料輸出：usb memory體積：約 228 w× 85 d× 65 hmm, 420g標準配備
更新時間:2025-12-18
過濾器完整性測試儀提供多種測試環(huán)境與測試方式，可以對親水性膜、疏水性膜、對稱性膜，非對稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過濾器的氣密性、完整性進行測試，同時系統(tǒng)具備歷史數據記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機軟件。
更新時間:2025-12-18
自動過濾器完整性測試儀提供多種測試環(huán)境與測試方式，可以對親水性膜、疏水性膜、對稱性膜，非對稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過濾器的氣密性、完整性進行測試，同時系統(tǒng)具備歷史數據記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機軟件。
更新時間:2025-12-18
全自動過濾器完整性測試儀提供多種測試環(huán)境與測試方式，可以對親水性膜、疏水性膜、對稱性膜，非對稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過濾器的氣密性、完整性進行測試，同時系統(tǒng)具備歷史數據記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機軟件。
更新時間:2025-12-18
便攜式過濾器完整性測試儀提供多種測試環(huán)境與測試方式，可以對親水性膜、疏水性膜、對稱性膜，非對稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過濾器的氣密性、完整性進行測試，同時系統(tǒng)具備歷史數據記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機軟件。
更新時間:2025-12-18
濾芯完整性測試儀提供多種測試環(huán)境與測試方式，可以對親水性膜、疏水性膜、對稱性膜，非對稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過濾器的氣密性、完整性進行測試，同時系統(tǒng)具備歷史數據記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機軟件。
更新時間:2025-12-18
泰克tektronix 以太網一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網一致性測試夾具，硬件測試，ddr測試，時序測試，紋波測試，抖動測試
更新時間:2025-12-18
ayi-usb2-at是阿儀網推出的高集成度自動化測試平臺，專為usb2.0眼圖模板、抖動及時序的驗證而設計。系統(tǒng)采用模塊化硬件與智能軟件，一鍵執(zhí)行全項合規(guī)測試，自動分離抖動成分，測量時序參數，并生成符合usb-if格式的詳細診斷報告，極大提升認證效率與問題定位精度。
更新時間:2025-12-18
uat-ec5000是業(yè)界針對usb3.0接收端受壓眼圖的智能校準平臺，融合動態(tài)基線補償、本底抖動剝離、眼圖傾斜校正三大專利技術。系統(tǒng)通過ai驅動的高精度信號重構，在極端壓力下仍可保證眼高測量誤差<±1％，為汽車電子/工業(yè)級應用提供可靠測試基準。
更新時間:2025-12-18
uat-8000是阿儀網推出的專業(yè)級usb3.0/3.1/3.2信號完整性測試平臺。系統(tǒng)集成了高性能示波器硬件與自動化分析軟件，專為測量眼高、抖動、時序等關鍵參數而優(yōu)化，提供從自動化合規(guī)性測試到深度信號診斷的一站式解決方案，大幅提升研發(fā)驗證與認證測試效率。
更新時間:2025-12-18
mipi傳輸過程中的信號質量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個聯(lián)盟，旨在把手機內部的接口如存儲接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標準化，減少兼容性問題并簡化設計。
更新時間:2025-12-18
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中，這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道，包括同時測量每條通道的眼圖。
更新時間:2025-12-18
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質量問題 mipi驅動問題 重起問題
更新時間:2025-12-18
硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅動問題
更新時間:2025-12-18
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動
更新時間:2025-12-18
mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動 硬件工程師調試mipi屏經驗
更新時間:2025-12-18
mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動 硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-12-18
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數據格式，加深在數據線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止狀態(tài)進入相應模式需要的時序：
更新時間:2025-12-18
日本強力kanetec高斯計tm-801exp產品說明:tm-701的容易使用性能沒有改變，但是實現(xiàn)了性能的大幅度提高！輕便型的新行業(yè)標準測量器
更新時間:2025-12-18
解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據ccir編碼表，sav和evav之間的保護數據是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯誤，可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2025-12-18
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當幀結束或者是個在rxfifo中的完整的幀數據被全部讀出時，eof中斷就產生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用，該中斷當field 1 和field 2交錯的時候產生。f1_int和f2_int會產生
更新時間:2025-12-18
解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數據是個從圖像傳感器獲得典型的行數據。該數據寬度定要通過軟件轉化為rgb空間或者是yuv空間的數據格式。pack_dir bit設置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數據內容，p0是個data,依次，p3是個data.
更新時間:2025-12-18
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設定為yuv模式，因此，csi獲取的數據也是yuv格式的數據，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應的memory進行顯示輸出。
更新時間:2025-12-18
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少，可以想象在相同的面積上，數量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質量其實會變差，這個當然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會變好，這樣畫面就比像素低的更加的細膩，所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2025-12-18
mipi眼圖 數據 clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關的口進行接口匹配。
更新時間:2025-12-18
ats-msi 4000是阿儀網針對lpddr4及高速存儲器芯片推出的專業(yè)級信號完整性測試平臺。系統(tǒng)深度融合高精度眼圖分析、皮秒級時序測量與深度抖動分解功能，提供從研發(fā)調試、預合規(guī)驗證到失效分析的完整解決方案。其應對低電壓、高速度的優(yōu)化設計，特別適合移動設備、汽車電子等領域對存儲器接口的嚴苛驗證需求。
更新時間:2025-12-18
lpdvt-4000是阿儀網專為lpddr4國產化替代設計的性能驗證平臺，支持4266mbps高速測試，提供從基礎功能到可靠性的全流程驗證方案，重點解決低電壓、高速度帶來的測試挑戰(zhàn)。
更新時間:2025-12-18
出租agilent usb3.0測試夾具u7242-26401
更新時間:2025-12-18
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-12-18
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-12-18
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調的情況。按照以上設計改板后的測試結果與仿真 致。 如果不進行仿真，那么只能在產品設計完成之后進行測試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善， 只能再改板調整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會延遲產品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-12-18
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產品上留有碎渣） 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-12-18
nfps-5000是阿儀網專為nand flash測試開發(fā)的精密測試平臺，集成四大測試模塊，提供從基礎測試到分析的全套解決方案。系統(tǒng)支持自動化測試流程，大幅提升測試效率和準確性。
更新時間:2025-12-18
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導致貼片虛焊。
更新時間:2025-12-18
emmc 時鐘測試 數據信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點夾在了單板的固定螺釘上，整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2025-12-18
emmc 復位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結果大大改善。
更新時間:2025-12-18
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數據信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本，低衰減比，缺點是致性不好，隔直電容參數及帶寬不好控制。
更新時間:2025-12-18
相關產品：emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數據信號測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標準接口封裝。
更新時間:2025-12-18
emmc4 , 復位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數據存取等功能。
更新時間:2025-12-18
emmc5 復位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時間:2025-12-18
emmc5 復位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現(xiàn)卡的初始化和數據訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
更新時間:2025-12-18
emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會進入該階段。
更新時間:2025-12-18
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