其他產品及廠家
根據jgj144-2004《外墻外保溫工程技術規(guī)程》研制的實驗裝置。該裝置可對外墻外保溫系統進行實驗室或現場試驗。該裝置結構簡單，使用方便，高度可調。采用磁力抓球方式，操作方便。整機移動方便，適于在現場使用。
更新時間:2025-12-20
依據gb/t5480-2008礦物棉及其制品試驗方法之標準設計制作，可對玻璃棉及其制品，礦物棉、巖棉、及其制品，硅酸鋁棉及其制品進行取樣試驗分析。具有全不銹鋼制造、外形美觀實用等特點
更新時間:2025-12-20
中空玻璃露點儀依據gb/t11944-2002《中空玻璃標準》測試露點的方法制做，使用電子制冷、數顯溫度，具有操作簡單、顯示直觀優(yōu)點。二、中空玻璃露點儀技術參數
更新時間:2025-12-20
運用jigaotest系統設計研發(fā)的一款用來檢測土工合成材料及相關復合材料在垂直方向水流透過率的測試設備。 土工布透水性測定儀 土工布透水性
更新時間:2025-12-20
大體積混凝土溫度測試儀，該儀器可實時監(jiān)測大體積混凝土凝固過程中因釋放水化熱引起的混凝土內部的溫升，從而可及時做出應對策略，避免混凝土因溫升造成的開裂等嚴重后果。此儀器系統主要適用于鐵路、水利、電力、市政、建筑等領域；可對混凝土內部溫度進行實時監(jiān)測,并可通過無線網絡與計算機進行通信，實現了真正意義上的遠程監(jiān)控。
更新時間:2025-12-20
高溫介電溫譜測試系統運用三電法設計原理測量。并參考美國 a.s.t.m 標準。重復性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測試線纜，提高測試參數的精確度，同時抗干擾能力更強。本設備也可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等用途。搭配labview系統開發(fā)的huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數等設置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。電壓、過電
更新時間:2025-12-19
fluke 6200-2 pat測試儀是輕便、小巧的一鍵式解決方案，6200-2的設計宗旨是在不影響您和客戶安全的前提下更快地工作。一鍵式解決方案...只需按下一個按鈕，即可啟動預設測試程序。簡化測試實現更快更高效的工作方式。6200-2重約為3 kg，重量輕、易攜帶。堅固耐用的便攜箱(標配)可以提供運輸保護還提供額外存儲空間。體積小...該便攜式電器測試儀結構非常緊湊，并且具有福祿克一貫的耐用性
更新時間:2025-12-19
商品名稱：juki feeder校正儀商品品牌：鑫鴻基/xhj商品產地：深圳商品尺寸（mm）：l500*w350*h500商品重量：約35kg適用機型：juki系列機型
更新時間:2025-12-19
gq-hw2a電弧紅外碳硫分析儀： 主要技術指標：*測量范圍：碳（c）0.001%~10.000%(可擴至99.999%) 硫（s）0.0005%~0.5000%(可擴至99.999%) *分析時間：25~60s可調，一般35s*分析誤差：碳優(yōu)于gb/223.69-1997標準 硫優(yōu)于gb/t223.68-1997標準 *燃燒功率：小于2.5kva； *工作原理：電弧燃燒，紅外檢測
更新時間:2025-12-19
加工定制：是類型：指針式電阻測量儀表品牌：yaos堯順型號：dx200ghd測量范圍：10-5--105ω（mω）電 源：220±10%測試電壓：2 mv、20 mv、200 mv、2v（v）精度：0.1%重量：8.5（kg）尺 寸：345mm*480mm*145mm規(guī)格：φ30x180
更新時間:2025-12-19
原裝進口產品，觸摸屏操作簡單。由普通電池供電，方便操作現場更換，功能強大，可以測量電能質量、連續(xù)性、絕緣電阻、線路/回路阻抗、接地電阻與土壤電阻率、rcd跳閘時間和電流，無跳閘時的接地回路阻抗、接觸電壓ut、相序、泄露電流、環(huán)境參數等
更新時間:2025-12-19
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關、高壓交直流變壓器元件構成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當高壓回路中通過的電流達到或超g
更新時間:2025-12-19
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關、高壓交直流變壓器元件構成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-12-19
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關、高壓交直流變壓器元件構成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-12-19
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關、高壓交直流變壓器元件構成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-12-19
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關、高壓交直流變壓器元件構成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-12-19
美國lee粗糙度儀粗糙度儀rl100是美國lee公司新出的新一代粗糙度儀，也叫袖珍便攜式表面粗糙度儀。它具有測量精度高、測量范圍寬、操作簡便、便于攜帶、工作穩(wěn)定等特點，可以廣泛應用于各種金屬與非金屬的加工表面的檢測，該粗糙度儀是傳感器主機一體化的袖珍式粗糙度儀，具有手持式特點，更適宜在生產現場使用。外形采用拉鋁模具設計，堅固耐用，抗電磁干擾能力顯著，符合當今設計新趨勢。
更新時間:2025-12-18
商品名稱：低阻抗率計 mcp-t370型 (手提式)loresta-ax特色：維持安定之高質量，依據之四探針理論之高精度之阻抗率計操作簡單，現場使用攜帶型方便，用于生產技術、質量管理測定范圍：10-2～106ω資料輸出：usb memory體積：約 228 w× 85 d× 65 hmm, 420g標準配備
更新時間:2025-12-18
過濾器完整性測試儀提供多種測試環(huán)境與測試方式，可以對親水性膜、疏水性膜、對稱性膜，非對稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過濾器的氣密性、完整性進行測試，同時系統具備歷史數據記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機軟件。
更新時間:2025-12-18
自動過濾器完整性測試儀提供多種測試環(huán)境與測試方式，可以對親水性膜、疏水性膜、對稱性膜，非對稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過濾器的氣密性、完整性進行測試，同時系統具備歷史數據記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機軟件。
更新時間:2025-12-18
全自動過濾器完整性測試儀提供多種測試環(huán)境與測試方式，可以對親水性膜、疏水性膜、對稱性膜，非對稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過濾器的氣密性、完整性進行測試，同時系統具備歷史數據記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機軟件。
更新時間:2025-12-18
便攜式過濾器完整性測試儀提供多種測試環(huán)境與測試方式，可以對親水性膜、疏水性膜、對稱性膜，非對稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過濾器的氣密性、完整性進行測試，同時系統具備歷史數據記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機軟件。
更新時間:2025-12-18
濾芯完整性測試儀提供多種測試環(huán)境與測試方式，可以對親水性膜、疏水性膜、對稱性膜，非對稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過濾器的氣密性、完整性進行測試，同時系統具備歷史數據記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機軟件。
更新時間:2025-12-18
泰克tektronix 以太網一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網一致性測試夾具，硬件測試，ddr測試，時序測試，紋波測試，抖動測試
更新時間:2025-12-18
ayi-usb2-at是阿儀網推出的高集成度自動化測試平臺，專為usb2.0眼圖模板、抖動及時序的驗證而設計。系統采用模塊化硬件與智能軟件，一鍵執(zhí)行全項合規(guī)測試，自動分離抖動成分，測量時序參數，并生成符合usb-if格式的詳細診斷報告，極大提升認證效率與問題定位精度。
更新時間:2025-12-18
uat-ec5000是業(yè)界針對usb3.0接收端受壓眼圖的智能校準平臺，融合動態(tài)基線補償、本底抖動剝離、眼圖傾斜校正三大專利技術。系統通過ai驅動的高精度信號重構，在極端壓力下仍可保證眼高測量誤差<±1％，為汽車電子/工業(yè)級應用提供可靠測試基準。
更新時間:2025-12-18
uat-8000是阿儀網推出的專業(yè)級usb3.0/3.1/3.2信號完整性測試平臺。系統集成了高性能示波器硬件與自動化分析軟件，專為測量眼高、抖動、時序等關鍵參數而優(yōu)化，提供從自動化合規(guī)性測試到深度信號診斷的一站式解決方案，大幅提升研發(fā)驗證與認證測試效率。
更新時間:2025-12-18
mipi傳輸過程中的信號質量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個聯盟，旨在把手機內部的接口如存儲接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標準化，減少兼容性問題并簡化設計。
更新時間:2025-12-18
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中，這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道，包括同時測量每條通道的眼圖。
更新時間:2025-12-18
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質量問題 mipi驅動問題 重起問題
更新時間:2025-12-18
硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅動問題
更新時間:2025-12-18
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動
更新時間:2025-12-18
mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動 硬件工程師調試mipi屏經驗
更新時間:2025-12-18
mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動 硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-12-18
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數據格式，加深在數據線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止狀態(tài)進入相應模式需要的時序：
更新時間:2025-12-18
日本強力kanetec高斯計tm-801exp產品說明:tm-701的容易使用性能沒有改變，但是實現了性能的大幅度提高！輕便型的新行業(yè)標準測量器
更新時間:2025-12-18
解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據ccir編碼表，sav和evav之間的保護數據是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯誤，可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2025-12-18
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當幀結束或者是個在rxfifo中的完整的幀數據被全部讀出時，eof中斷就產生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用，該中斷當field 1 和field 2交錯的時候產生。f1_int和f2_int會產生
更新時間:2025-12-18
解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數據是個從圖像傳感器獲得典型的行數據。該數據寬度定要通過軟件轉化為rgb空間或者是yuv空間的數據格式。pack_dir bit設置為0，表示系統是小端，不是大端系統。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數據內容，p0是個data,依次，p3是個data.
更新時間:2025-12-18
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設定為yuv模式，因此，csi獲取的數據也是yuv格式的數據，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應的memory進行顯示輸出。
更新時間:2025-12-18
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少，可以想象在相同的面積上，數量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質量其實會變差，這個當然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會變好，這樣畫面就比像素低的更加的細膩，所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2025-12-18
mipi眼圖 數據 clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關的口進行接口匹配。
更新時間:2025-12-18
ats-msi 4000是阿儀網針對lpddr4及高速存儲器芯片推出的專業(yè)級信號完整性測試平臺。系統深度融合高精度眼圖分析、皮秒級時序測量與深度抖動分解功能，提供從研發(fā)調試、預合規(guī)驗證到失效分析的完整解決方案。其應對低電壓、高速度的優(yōu)化設計，特別適合移動設備、汽車電子等領域對存儲器接口的嚴苛驗證需求。
更新時間:2025-12-18
lpdvt-4000是阿儀網專為lpddr4國產化替代設計的性能驗證平臺，支持4266mbps高速測試，提供從基礎功能到可靠性的全流程驗證方案，重點解決低電壓、高速度帶來的測試挑戰(zhàn)。
更新時間:2025-12-18
最新產品
- 吉爾伯特JBZC306電渦流傳感器靜態(tài)校驗儀 2025/12/20 19:23:56
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- GE IC693MDL645J 2025/12/20 19:16:14
- ABB IMFEC12 2025/12/20 19:13:11
- CP1W-16ET 2025/12/20 19:12:28
- 321-1BL00 2025/12/20 19:11:40
- ACCURA2350 3P-60A-75 2025/12/20 19:10:50
- HCMARC-0CT 2025/12/20 19:08:06
- PROFIBUS cONNECTOR 6es7 972-pBA11-0xa0 2025/12/20 19:07:34
- GE模塊IC693MDL655F 2025/12/20 19:06:40
- 三菱 CL1Y4-R1B2 AJ65SBT-CLB 2025/12/20 19:06:40
- 6GK5104-2BB00-2AA3 2025/12/20 19:06:39
- VB2-FSWFKWFSW 45 2025/12/20 19:02:34
- ANCi ENCODER 7751 54725 2025/12/20 19:01:50
- SEW MDX61B0014-5A3-4-00 2025/12/20 19:01:08
- LS APM-HC05HC(D2)H APD-VS10N 2025/12/20 19:00:26
- LH 1901 -2R 2025/12/20 18:57:37
- DRT2-AD04 2025/12/20 18:56:58
- AB060-S1-P2 2025/12/20 18:55:56
- ETR4-69-A 2025/12/20 18:55:07
- 6AV6 671-5AE11-0AX0 2025/12/20 18:52:08
- 400N-S32013 SER A 2025/12/20 18:51:22
- GE模塊IC697PWR711K 2025/12/20 18:50:45
- DRT1-ID16 2025/12/20 18:49:54
- IC200MDL240F 2025/12/20 18:47:07
- EH US 2025/12/20 18:46:34
- 6GT2 002-0EB20 2025/12/20 18:45:54
- FMU90 2025/12/20 18:45:10